Design & Test impedanzkontrollierter Leiterplatten · Software & Testsysteme zur Fehlerdiagnose auf Leiterplatten

CAF Test

 

Die Leiterplatte ist das Fundament für eine zuverlässige Elektronik-Baugruppe. Die Prüfung der Zuverlässigkeit beruht auf dem 3-Säulen-Modell:

 

  • Prüfung der Zuverlässigkeit der Durchkontaktierungen (IST)
  • Prüfung des Materials und des Lagenaufbaus (DELAM)
  • Prüfung auf Kurzschlüsse und parasitäre Leckströme (CAF)

Eine Schwäche in einer dieser drei Säulen führt zu einer massiven Beeinträchtigung der Gesamtzuverlässigkeit des elektronischen Systems. Der CAF Test (Cathodic Anodic Filament) wurde bisher vorwiegend zur Materialprüfung eingesetzt, ohne jedoch das Design und den Lagenaufbau der tatsächlichen Leiterplatte zu berücksichtigen.

Steigende Anforderungen speziell im Bereich Automotive mit vorgeschriebenen Prüfspannungen zwischen 1000V und 2000V machen es jedoch erforderlich, das spezifische Leiterbild mit einzubeziehen.

 

Der CAF Test von PWB nutzt einen speziell an die Leiterplatte angepassten

Testcoupon, welcher die kritischen Design-Eigenschaften abbildet:

 

  • Lagenaufbau
  • Via-Strukturen
  • Mindestabstände

 

Gibt es einen Industriestandard für den CAF Test?

Der CAF-Test muss an die Produktlebenszyklen im jeweiligen Anwendungssegment angepasst werden. Jede Industrie (Consumer, Computer, Telekom, Medizintechnik, Automotive, Luftfahrt, etc.) weist spezifische Endanwender-Umgebungsbedingungen auf, welche durch repräsentative Kriterien abgebildet werden müssen. Der CAF Test von PWB berücksichtigt diese neuen Anforderungen und wird sowohl als Systeminstallation als auch als Testdienstleistung angeboten.

 

zum Download: PWB CAF Testing.pdf

 

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